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當(dāng)前位置:首頁  >  技術(shù)文章

  • 2018

    2-26

    ROHS檢測儀在儀器檢測、儀器校準(zhǔn)行業(yè)中發(fā)揮著重要的作用,對于RoHS檢測儀設(shè)備生產(chǎn)廠家或者儀器校準(zhǔn)第三方機構(gòu)來說,了解RoHS檢測儀的保養(yǎng),如何保養(yǎng)維護好RoHS檢測儀非常重要。以下就是儀器檢測技術(shù)工人的總結(jié):一、儀器工作的外部環(huán)境1、周圍強磁場干擾設(shè)備合理的工作環(huán)境,要求在沒有電機、振動、電磁、高壓或有高頻率電焊器等電磁干擾的地方安裝,否則會干擾設(shè)備的譜形或造成設(shè)備不能正常工作。2、環(huán)境溫度,濕度的影響應(yīng)保持室溫20~25℃為宜,氣溫過高或過低都會影響設(shè)備的正常運作,所以...

  • 2018

    2-5

    含鉛檢測儀器空白與樣品所用試劑的純度和容器的潔凈度有關(guān)。再加之,鉛廣泛分布于自然界。因此,鉛的檢測是易污染、*低的痕量分析,空白越低,準(zhǔn)確度越高。所以,要求整個實驗空白要很低,實驗過程中要嚴(yán)格控制污染。1.實驗用水應(yīng)符合GB/T6682-2008《分析實驗室用水規(guī)格和試驗方法》二級水的要求。2.實驗試劑應(yīng)使用優(yōu)級純,如果沒有符合純度要求的試劑,可采用化學(xué)法進行提純,但是在提純過程中,要注意避免溶劑二次沾污的可能性,同時實驗選用的試劑,還應(yīng)以不沾污待測元素為基準(zhǔn)(在實驗中,如果...

  • 2018

    1-10

    1、表面與外殼的清潔。儀器可用微濕的抹布進行表面清潔,不可用堿性或酸性清潔劑,應(yīng)使用中性清潔劑。2、內(nèi)部與探測器的清潔,在清潔過程中,必須注意不要將異物掉入測試窗口中,測試窗口應(yīng)該保持清潔,同時不能使用硬物接觸測試窗口內(nèi),防止損傷探測器窗口和X光管窗口。3、開合蓋子需要注意什么問題儀器上禁止擺放茶杯,重物等與測試無關(guān)的物品,以免污染或損傷儀器。4、國產(chǎn)ROHS儀器的維護及安全使用方法(a)儀器測試窗口為裸露狀態(tài)時,必須保證無異物進入測試窗口內(nèi)。(b)儀器的測試窗口下方是進口探...

  • 2017

    12-28

    臺式x熒光光譜儀樣品種類樣品狀態(tài)一般有固體塊狀樣品、粉末樣品和液體樣品等。(1)固體塊狀樣品包括黑色金屬、有色金屬、電鍍板、硅片、塑料制品及橡膠制品等,其中金屬材料占了很大的比例。(2)粉末樣品包括各種礦產(chǎn)品,水泥及其原材料,金屬冶煉的原材料和副產(chǎn)品如鐵礦石、煤、爐渣等;還有巖石土壤等。(3)液體樣品油類產(chǎn)品、水質(zhì)樣品以及通過化學(xué)方法將固體轉(zhuǎn)換成的溶液等。臺式x熒光光譜儀中不同樣品有不同的制樣方法。金屬樣品如果大小形狀合適,或者經(jīng)過簡單的切割達到國產(chǎn)X熒光光譜儀分析的要求,只...

  • 2017

    12-23

    ROHS檢測儀就是X射線熒光光譜儀,其分析原理也就是X射線熒光光譜儀的分析原理。X射線熒光光譜儀通常可分為兩大類,波長色散X射線熒光光譜儀(WDXRF)和能量色散X射線熒光光譜儀(EDXRF),波長色散光譜儀主要部件包括激發(fā)源、分光晶體和測角儀、探測器等,而能量色散光譜儀則只需激發(fā)源和探測器和相關(guān)電子與控制部件,相對簡單。波長色散X射線熒光光譜儀使用分析晶體分辨待測元素的分析譜線,根據(jù)Bragg定律,通過測定角度,即可獲得待測元素的譜線波長:nλ=2dsinaθ(n=1,2,...

  • 2017

    12-20

    ICP光譜儀應(yīng)用范圍都有哪些?ICP光譜儀它的迅速發(fā)展和廣泛應(yīng)用是與其克服了經(jīng)典光源和原子化器的局限性分不開的,ICP光譜法是上世紀(jì)60年代提出、70年代迅速發(fā)展起來的一種分析方法。近代的光譜儀大都采用微型計算機處理實驗結(jié)果,ICP光譜儀是當(dāng)前光譜分析中zui迅速zui靈敏的一種儀器。光譜儀是上述各種儀器的總稱,各種光譜儀的形式各異。ICP光譜儀應(yīng)用范圍一、地礦樣品的分析:包括地質(zhì)樣品、礦石及礦物等。二、動植物及生化樣品的分析:包括植物、中藥及動物組織、生物化學(xué)樣品等。三、核...

  • 2017

    12-20

    EXF鍍層測厚儀原子的特性由原子序來決定,亦即質(zhì)子的數(shù)目或軌道中電子的數(shù)目,即如圖所示特定的X-射線能量與原子序間的關(guān)系。K輻射較L輻射能量高很多,而不同的原子序也會造成不同的能量差。覆層厚度的測量方法主要有:楔切法,光截法,電解法,厚度差測量法,稱重法,X射線熒光法,β射線反向散射法,電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。EXF鍍層測厚儀是無接觸無損測量,但裝置復(fù)雜昂貴,測量范圍較小。因有放射源,使用者必須遵守...

  • 2017

    12-9

    1.影響因素的有關(guān)說明a基體金屬磁性質(zhì)磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可以認(rèn)為是輕微的),為了避免熱處理和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn);亦可用待涂覆試件進行校準(zhǔn)。b基體金屬電性質(zhì)基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其材料成分及熱處理方法有關(guān)。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標(biāo)準(zhǔn)片對儀器進行校準(zhǔn)。濕度傳感器探頭,,不銹鋼電熱管PT100傳感器,,鑄鋁加熱器,加熱圈流體電磁閥c基體金屬厚度...

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